Đặc tính chính của hệ thống DC-Test
-
Khả năng phát từ trường tĩnh (DC) & Tần số cực thấp (VLF): Hệ thống được tối ưu hóa để làm việc từ tần số $0\text{ Hz}$ (từ trường tĩnh DC) lên tới hàng chục kilohertz (khác với hệ thống AC-Test vốn tối ưu cho dải tần rộng và tần số cao hơn).
-
Thử nghiệm cục bộ (Local Immunity Testing): Giúp kỹ sư xác định chính xác vị trí/linh kiện bị nhạy cảm hoặc nhiễu do từ trường xoay quanh bề mặt vỏ thiết bị, connector, hoặc bo mạch.
-
Thiết kế dạng cầm tay (Handheld): Thường có các vòng căn khoảng cách (distance spacers – ví dụ $50\text{ mm}$) giúp giữ cố định khoảng cách từ tâm cuộn dây đến bề mặt thiết bị thử nghiệm để đảm bảo độ chính xác của độ lớn từ trường.
